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NI PXIe‑2514欠陥生成ユニット(FIU)は、HIL(hardware‑in‑the‑loop)アプリケーションや電子機器の信頼性検査で使用することを想定して設計されています。各モジュールはフィードスルーチャンネルを備えています。このチャンネルを、1つまたは複数の欠陥バスに対して開放または短絡させることができます。 この製品は内蔵のリレーを開閉することにより、開放または割り込み接続をシミュレートできます。例えば、開放、ピン間の短絡、バッテリへの短絡、グランドへの短絡がシミュレートできます。 NI PXIe‑2514は、LabVIEW Real‑Timeモジュールと組み合わせることで、エンジン制御ユニット(ECU)、全自動デジタルエンジン制御(FADEC)などの制御システムの整合性を検証するのに最適なソリューションとなります。
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