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Wafer-Level Reliability Test Toolkit

YEA Engineering, LLC

Wafer-Level Reliability Test Toolkit fournit des techniques de contrainte et de mesure pour l’estimation de la fiabilité.
Wafer-Level Reliability (WLR) Test Toolkit est un complément logiciel pour LabVIEW. Vous pouvez utiliser ce complément logiciel avec les unités de source et mesure PXI pour effectuer une estimation de la fiabilité des dispositifs semi-conducteurs aux extrémités extrêmes de tension et de température en termes de spécifications de dispositif. Le complément logiciel vous aide à utiliser les mécanismes d’instabilité de la température de polarisation négative et d’injection de porteurs chauds pour mettre sous contrainte et mesurer la réponse d’un périphérique pour surveiller les signes de dégradation. Vous pouvez effectuer ces tests sur un wafer ou un niveau packagé. WLR Test Toolkit fournit également des visualisations pour les données de mesure et d’analyse.
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Téléchargements

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