Les changements technologiques rapides incitent les ingénieurs à réduire les coûts des tests de semi-conducteurs tout en maintenant la qualité pour les CI RF et à signaux mixtes. Les appareils axés sur l’IA favorisent l’utilisation d’équipements de test automatique haut de gamme, tandis que les versions anciennes de plateformes deviennent obsolètes. Les systèmes ATE traditionnels sont rigides et coûteux, laissant les fabricants analogiques et à signaux mixtes en quête de solutions de test flexibles conciliant le coût, la rapidité et la couverture.
La complexité des appareils augmente, mais les coûts de test n’ont pas à suivre. Les systèmes de test modulaires et définis par logiciel NI se déploient de la caractérisation aux tests de production de semi-conducteurs à haut volume, vous aidant à réduire le coût par appareil tout en accélérant les rampes de rendement. Que vous ayez besoin d’une solution ATE clé en main prête à produire, d’un testeur PXI personnalisé hautement optimisé ou d’un logiciel d’entreprise intelligent pour l’optimisation du rendement axée sur l’analyse, les technologies NI vous aident à aligner la couverture, le débit et le coût des tests à chaque étape du cycle de vie.
SOLUTION PHARE
Le système de test de semi-conducteurs (STS) de NI combine des instruments PXI, un logiciel de programme de test et une calibration in situ dans un format industriel de tête de test pour une intégration transparente des cellules de test. Éprouvé pour les appareils RF et les CI à signaux mixtes, il offre un débit et une efficacité des coûts supérieurs sans compromettre la qualité.
Le STS de NI est une solution intelligente et optimisée en coût pour le test de production de semi-conducteurs, fournissant un ATE prêt pour les flux de travail pour les appareils RF et les CI à signaux mixtes. Pour les exigences personnalisées, des instruments PXI modulaires, des racks de test 19" préassemblés et des logiciels d’automatisation et d’analyse de test offrent flexibilité, évolutivité et accélération de la production. Les deux options exploitent une approche modulaire connectée par logiciel, rationalisant la mise au point, le développement et l’automatisation pour accélérer la mise sur le marché.
Semi-conducteur ON a choisi le STS NI pour une solution ATE évolutive et rentable pour le test de tri sur wafer et le test final lorsque les solutions ATE traditionnelles ne pouvaient répondre à leurs besoins.
FitTech a utilisé les unités de source et mesure PXI NI pour réduire l’encombrement, accélérer le temps de test et accroître le parallélisme lors des tests de production MiniLED sans compromettre la qualité.
Nous utilisons le STS pour la sonde de wafer et le test final emballé pour une large gamme de portefeuilles de produits... À ce jour, nous avons testé plusieurs centaines de millions d’unités. Nous sommes constamment impressionnés par la fiabilité et la disponibilité de ces systèmes.
Directeur général
Appareils analogiques
Le réseau de partenaires NI est une communauté mondiale d’experts en matière de domaines, d’applications et de tests qui travaillent avec NI pour répondre à vos besoins. Les partenaires NI sont des gestionnaires de solutions de confiance, des intégrateurs de systèmes, des consultants, des développeurs de produits et des experts des services et des canaux de vente qualifiés dans un large éventail d’industries et de domaines d’application.
Un partenaire NI est une entité professionnelle indépendante de NI et n’a aucune relation d’agence ou de « joint-venture » et n’est membre d’aucune association professionnelle incluant NI.
