Résolution des problèmes liés au processus de fabrication pour atteindre les objectifs de qualité. Analyse statistique des données de test de plusieurs opérations à l’aide des algorithmes PAT (Part Average Testing) éprouvés pour identifier les unités aberrantes. Développez vos compétences liées à OptimalPlus en apprenant à exécuter des algorithmes Outlier Detection sur des données de test à l’aide d’une population prédéfinie. Découvrez comment intégrer et combiner ces algorithmes à l’aide d’une seule « recette » de règles lors d’opérations multiples. Apprenez à faire basculer automatiquement les unités dans des intervalles différents lors de l’application de la règle en production.
Date de la dernière version du cours ou numéro de version :
En salle, avec instructeur : 3 - 4 jours (selon les sujets à couvrir)
Clients de l’industrie des semiconducteurs
Pour les personnes chargées d’améliorer la qualité et la fiabilité des produits
Ingénieurs qualité, ingénieurs de test et produits, administrateurs de systèmes informatiques et utilisateurs clés pour une formation enrichie
Connaissance préalable du parcours d’apprentissage Opérations globales
Un environnement dans lequel l’étudiant peut s’exercer
Recueillir les cas d’utilisation à couvrir lors des cours
Informations fournies si le client a un environnement Vertica
OptimalPlus SW
Expliquer la valeur de la solution Outlier Detection
Différencier le fonctionnement de chaque algorithme
Concevoir différentes règles d’opérations virtuelles
Analyser les résultats des règles après avoir appliqué un algorithme Outlier Detection
Veuillez contacter l’équipe Application/Support pour en savoir plus ou pour demander le plan de formation.