Le logiciel Wafer-Level Reliability (WLR) Test Software exploite le PTS NI pour effectuer des tests de fiabilité au niveau du wafer et facilite la réalisation de tests de résistance conformes à la norme JEDEC tels que TDDB, HCI, BTI, etc., sans nécessiter de code. Ce logiciel fournit également des API LabVIEW, C# et Python pour des cas d’utilisation de développement personnalisé.