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Le PXI‑2510 est une unité d'insertion de défauts conçue pour les tests de fiabilité électronique et les applications HIL (hardware‑in‑the‑loop). Chaque module dispose d'un jeu de voies traversantes qui peuvent être ouvertes ou reliées à un ou plusieurs bus d'insertion de défauts. Cette architecture peut être utilisée pour simuler sur chaque voie des connexions ouvertes ou interrompues ainsi que des courts‑circuits entre broches, aux bornes d'une batterie ou à la masse. Piloté par le module LabVIEW Real‑Time, le PXI‑2510 est idéal pour valider l'intégrité de systèmes de contrôle/commande comprenant des unités de commande électronique (ECU) et des systèmes de régulation numérique pleine autorité (FADEC).
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