Pruebas de producción de alto volumen

Los líderes de pruebas de producción necesitan una alternativa más inteligente para equipo de pruebas automatizadas (ATE) tradicional para cumplir con los requisitos cada vez más complejos de costo y cobertura de ICs de RF y señal mixta.

Analog Devices utiliza el sistema de pruebas de semiconductores (STS) para punta de prueba de oblea y prueba final de paquetes de portafolios de productos que van desde dispositivos de señal mixta hasta RFICs.

Un enfoque más inteligente para ATE de producción

Los fabricantes de chips deben ofrecer una funcionalidad más integrada, garantizar la más alta fiabilidad para aplicaciones esenciales, seguir siendo altamente competitivos en costos y garantizar un corto tiempo de comercialización para cumplir con plazos de diseño ajustados. La consolidación ha dejado al mercado de semiconductores ATE con menos proveedores, lo que lleva a opciones limitadas. Creemos que es hora de un cambio. Durante 40 años, NI ha ayudado a probar y medir los dispositivos del futuro. Hoy en día, somos uno de los proveedores de pruebas de producción de semiconductores de más rápido crecimiento porque creemos que las soluciones de pruebas más inteligentes del mañana, impulsadas por 5G, IoT y los requisitos del vehículo inteligente, son definidas por el cliente y no definidas por el proveedor.

Folleto de semiconductor de NI

Aprenda más sobre cómo puede reducir sus costos de pruebas con un enfoque basado en plataforma para pruebas de semiconductores.

Contenido relevante

Las soluciones de equipos de prueba de IC permitieron a ON Semiconductor implementar un probador de producción de IC de señal mixta que supera a otros equipos de pruebas automatizadas (ATE) disponibles comercialmente.
Las soluciones de NI para el proceso de pruebas de semiconductores, desde la prueba de semiconductores 5G hasta la prueba de IC de señal mixta, brindan un rendimiento y una flexibilidad de pruebas sin precedentes.
IDT implementó sistemas STS que brindan medidas de alto rendimiento en múltiples sitios de prueba con verdaderas capacidades de prueba en paralelo.

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