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El curso desarrollo del programa de pruebas con STS le brinda experiencia práctica para configurar y usar un sistema de pruebas de semiconductores (STS) para comunicarse con un dispositivo bajo prueba (DUT). El curso seguirá el flujo de trabajo de pruebas de semiconductores y las metas típicas que incluyen una estrecha interacción con el hardware correspondiente. Después de completar este curso, un ingeniero de pruebas podrá usar los recursos del probador de STS de manera interactiva para crear, modificar, ejecutar y depurar programas de pruebas con módulos de código preexistentes (desarrollados usando LabVIEW o .NET/C#) para recopilar datos de pruebas y probar informes de tiempo.
Última fecha de lanzamiento o número de versión del curso: Bajo demanda: 23.0
Bajo demanda: 5 horas
Ingenieros de pruebas de semiconductores que usan o evalúan el sistema de pruebas de semiconductores (STS) para realizar pruebas de producción de semiconductores o validación de dispositivos automatizados de alto volumen.
Conocimiento general de estrategias y métodos de pruebas de semiconductores
Experiencia general en informática
Conocimientos básicos de ingeniería de pruebas
Bundle de Software STS
Sistema de pruebas de semiconductores (STS)
Los cursos virtuales guiados por un instructor incluyen material digital que se entrega a través del centro de aprendizaje de NI.
La capacitación virtual guiada por un instructor se imparte a través de Zoom y se brinda acceso a Amazon AppStream/LogMein a los participantes para realizar los ejercicios en máquinas virtuales equipadas con el software más reciente.
Configurar un STS para probar un dispositivo semiconductores de señal mixta
Comunicarse con un DUT.
Utilizar los recursos del probador STS para crear, modificar, ejecutar y depurar de forma interactiva un programa de pruebas utilizando módulos de código pre-escritos.
Describir la arquitectura del programa de pruebas, modificarla y configurar el flujo de ejecución.
Depurar dispositivos, señales y secuencias de pruebas con paneles de depuración
Recopilar datos de pruebas y generar reportes de pruebas
Evaluar el tiempo de prueba
| Lección | Descripción general | Temas |
|---|---|---|
| Introducción al STS | Explore los conceptos principales del sistema de pruebas de semiconductores (STS). |
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| Explorar el cabezal de prueba | Explorar las características de alto nivel y E/S para el cabezal de prueba STS. |
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| Explorar las tarjetas de carga | Explorar las características de alto nivel de la tarjeta de interfaz del dispositivo (DIB) y los diferentes tipos de interfaz de la tarjeta de carga. |
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| Conexión con el STS | Describir la topología de una celda de prueba típica y explorar varias opciones para conectar un STS. |
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| Explorar el software NI STS | Explore las herramientas de software para monitorear, mantener, depurar y calibrar el STS, así como el desarrollo de pruebas y el entorno de desarrollo del módulo de código para STS. |
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| Navegar por el flujo de trabajo del desarrollador de pruebas | Explorar un flujo de trabajo de desarrollador de pruebas de muestra y sus pasos clave. |
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| Investigar los requisitos y especificaciones de seguridad del STS | Explorar y aplicar los requisitos y especificaciones de seguridad, el cumplimiento de seguridad y las especificaciones ambientales del sistema STS. |
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Explorar la instrumentación del probador | Explorar la plataforma STS PXI y la instrumentación STS común. |
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| Explorar las especificaciones del sistema | Explorar las especificaciones de entrada y salida del STS T1, T2 y T4. |
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| Calibrar un STS | Explorar los módulos de calibración y los tipos de calibración utilizados en el sistema STS. |
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| Crear un proyecto del STS | Crear un programa de pruebas y explorar el archivo de secuencia y la estructura de carpetas que se crean para el programa de pruebas. |
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| Crear mapas de pines | Explorar el propósito del mapa de pines y su función en la asignación del hardware STS a los pines del dispositivo bajo prueba. |
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| Revisar una configuración del probador y los esquemáticos de la tarjeta de carga | Explorar la documentación del probador estándar, su contenido y su propósito. |
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| Asignar requisitos de medidas | Asignar requisitos de medidas para garantizar que el sistema y sus instrumentos equipados puedan cumplir con los requisitos de medidas del plan de prueba. |
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| Asignar pines del DUT a canales de instrumentos | Utilizar el editor de mapas de pines para crear y modificar archivos de mapas de pines, que asignan pines del DUT a canales de instrumentos. |
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| Conectar con el DUT usando la tarjeta de interfaz del dispositivo | Explore las diferentes maneras en que puede conectar sus instrumentos a una tarjeta de interfaz de dispositivo (DIB) e identifique los recursos disponibles para ayudarlo a diseñar su propia tarjeta de carga. |
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| Comprobar la continuidad del DUT | Utilizar el instrumento de patrón digital para probar la continuidad del DUT antes de ejecutar otras pruebas. |
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| Preparar el DUT | Utilizar el Digital Pattern Editor para preparar el dispositivo bajo prueba (DUT) para que usted pueda comenzar a probarlo. |
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| Medir la corriente de fuga | Utilizar el instrumento de patrón digital para medir la corriente de fuga del DUT antes de ejecutar otras pruebas. |
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| Preparación para comunicarse con el DUT | Identificar los tipos de archivos asociados con un proyecto digital y describir los archivos que deben crearse antes de crear un patrón digital para comunicarse con el DUT. |
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| Crear patrones digitales básicos para comunicarse con el DUT | Crear, editar, cargar y dividir patrones digitales básicos para comunicarse con el DUT usando el Digital Pattern Editor. |
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| Convertir patrones digitales existentes | Convertir patrones desarrollados en otros entornos para usarlos en el Digital Pattern Editor. |
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| Explorar el archivo de secuencia de pruebas | Explorar los componentes principales de un archivo de secuencia de pruebas y cómo usar cada componente. |
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| Agregar pasos a una secuencia de pruebas | Explore cómo insertar pasos en una secuencia de prueba. |
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| Crear y configurar pasos de pruebas | En un proyecto STS, crear y configurar pasos de pruebas que llamen a módulos de código. |
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| Usar plantillas de pasos de pruebas | Describir las diferentes plantillas de pasos que están disponibles y cómo usarlas como parte de una secuencia de pruebas. |
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| Controlar la ejecución de TestStand | Ejecutar una secuencia de pruebas y modificar la secuencia de pruebas para que se ejecute de manera diferente dependiendo de las condiciones o la configuración de la prueba. |
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| Establecer límites de prueba | Crear, explorar e importar límites de prueba para actualizar rápidamente sus secuencias de pruebas para diferentes escenarios. |
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| Crear configuraciones de pruebas | Utilizar el editor de programas de pruebas y sus requisitos para crear configuraciones de prueba para su sistema. |
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| Agrupar los DUTs según los resultados de la prueba | Describir las diferentes maneras de clasificar los DUTs según los resultados de las pruebas e implementar una estrategia de agrupamiento. |
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| Configurar la ejecución de un programa de pruebas | Configurar y ejecutar un programa de pruebas en el entorno de desarrollo de pruebas. |
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| Generar reportes de pruebas | Implementar una estrategia de generación de reportes de pruebas y recopilación de resultados en TestStand. |
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| Depurar un programa de pruebas | Utilice las funciones integradas de TestStand para identificar y solucionar problemas en una secuencia de pruebas. |
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| Explorar escenarios de depuración | Depurar un programa de pruebas en diferentes situaciones inesperadas. |
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| Evaluar el tiempo de prueba | Identificar y abordar los problemas que limitan la velocidad de ejecución del código. |
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| Interactuar con los recursos del probador para depurar problemas | Utilizar InstrumentStudio para interactuar con los recursos del probador para depurar problemas de pruebas. |
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| Utilizar el Digital Pattern Editor para depuración | Utilice herramientas dentro del Digital Pattern Editor (DPE) para depurar aún más las fallas de las pruebas. |
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| Ejecutar una secuencia con la interfaz del operador del STS | Ejecutar un programa de pruebas usando la interfaz de operador (OI) de pruebas de semiconductores de NI y obtener el tiempo real de conexión. |
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