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Descripción general del curso de pruebas de dispositivos con instrumentos de patrón digital

Aprenda a usar de manera efectiva los osciloscopios de NI para seleccionar el instrumento y las puntas de prueba adecuados para sus necesidades de medidas. Configure su dispositivo de osciloscopio y realice medidas interactivas y programáticas de su DUT.

Formatos disponibles

 

Capacitación virtual no disponible para este curso

 

Capacitación en aula no disponible para este curso

 

Capacitación privada no disponible para este curso

Objetivos del curso

Detalles del curso

Duración

Audiencia

Prerrequisitos

Productos de NI utilizados

Materiales de formación/capacitación

Costo en créditos

Contenido del curso pruebas de dispositivos con instrumentos de patrón digital

LecciónDescripción generalTemas

Crear y activar su primer patrón

Configurar un mapa de pines, una hoja de nivel, una hoja de tiempo y un archivo de patrón, activando un patrón digital en el dispositivo bajo prueba (DUT).

  • Instrumentos de patrón digital PXI

Crear mapas de pines

Crear mapas de pines en el Digital Pattern Editor para definir sitios de conexión del DUT.

  • Explorar mapas de pines

Crear hojas de especificaciones

Almacenar valores de la hoja de datos del DUT en las variables de la hoja de especificaciones. 

  • Explorar hojas de especificaciones

Crear hojas de niveles de pines

Crear hojas de niveles de pines para definir los voltajes de suministro, terminación y niveles lógicos para el DUT.

  • Explorar hojas de niveles de pines

Crear hojas de tiempo

Crear hojas de tiempo para definir las características de temporización de la interfaz con el DUT.

  • Explorar hojas de temporización

Crear archivos de patrones

Cree archivos de patrones para comunicarse y probar el DUT.

  • Introducción a los patrones
  • Trabajar con patrones

Programar patrones digitales

Controlar de manera programática los instrumentos de patrón digital usando la API de patrón digital de NI.

  • Explorar el flujo del software de instrumentos de patrón digital
  • Crear una sesión y controlar estados
  • Editar mapas de pines con la API de patrón digital
  • Editar niveles de pines con la API de patrón digital
  • Editar conjuntos de tiempo con la API de patrón digital
  • Cargar archivos con la API de patrón digital

Probar modos de operación del DUT

Configurar el DUT con comandos de interfaz periférica serial (SPI) para probar sus modos de operación.

  • Explorar la comunicación SPI

Realizar pruebas de lectura de registros

Realizar una prueba de lectura de registros para validar las capacidades de comunicación del DUT.

  • Presentamos las pruebas de lectura de registros

Validar la temporización del DUT

Conectar con equipo de pruebas externo para validar la temporización del DUT

  • Introducción a la validación de temporización del DUT

Realizar pruebas de continuidad y fugas

Realizar pruebas de continuidad y fugas para validar conexiones de pines del DUT

  • Introducción a pruebas de continuidad y fugas
  • Explorar los fundamentos de la unidad de medida paramétrica por pin (PPMU)

Aumentar la robustez del patrón con control de flujo

 

 

Aumentar la robustez de un patrón usando códigos de operación para establecer el control de flujo.

  • Introducir códigos de operación en el Digital Pattern Editor
  • Usar códigos de operación de repetición y ciclo en un patrón
  • Explorar códigos de operación de Jump y Call
  • Usar comportamiento condicional
  • Explorar códigos de operación de registros y marcas de secuenciador

 

 

Usar formas de onda de fuente

 

 

 

Usar formas de onda de fuente serial y paralela para simplificar una estructura de patrón con datos variables.

 

  • Explorar formas de onda de fuente
  • Configurar formas de onda de fuente serial
  • Usar formas de onda de fuente serial en patrones 
  • Explorar el reemplazo del estado del pin de origen 
  • Cargar y descargar de formas de onda fuente 
  • Configurar formas de onda de fuente paralela
  • Usar formas de onda de fuente paralela en patrones 
  • Consideraciones de ancho de banda de origen

Usar formas de onda de captura

 

Usar formas de onda de captura para almacenar los datos recibidos para validación y procesamiento posterior.

  • Explorar formas de onda de captura
  • Configurar formas de onda de captura serial
  • Configurar formas de onda de captura paralela
  • Usar formas de onda de captura en patrones
  • Cargar y descargar formas de onda de captura
  • Consideraciones de formas de onda de captura 

Revisar resultados de prueba con reportes de historial de RAM

 

Usar el resultado del reporte de historial de RAM para depurar patrón o dispositivo bajo prueba (DUT).

  • Explorar historial de RAM
  • Usar la API de historial de RAM digital 
  • Consideraciones de memoria y ancho de banda

 

Visualizar señales con osciloscopio digital

 

 

Usar un osciloscopio digital para ver los niveles de voltaje reales en los pines del instrumento de patrón digital (PXIe-657x).

 

  • Explorar el osciloscopio digital
  • Configurar y usar el osciloscopio digital

Usar gráficas Shmoo para visualizar relaciones de parámetros

 

Usar gráficas Shmoo para iterar parámetros del patrón y ver resultados.

 

  • Explorar gráficas Shmoo
  • Explorar modos de ejecución de gráficas Shmoo

Sincronizar con otros instrumentos

Implementar estrategias de sincronización como compartir disparos o usar NI-TClk para coordinar tareas con otros instrumentos.

 

  • Generar disparos de forma interactiva
  • Generar disparos de manera programática
  • Usar NI-TClk con múltiples instrumentos 
  • Detectar condiciones de coincidencia o falla
  • Descripción general de los métodos de sincronización

Cableado y calibración

 

Compensar desfase del cable y compensaciones de voltaje y explorar los requisitos de calibración del dispositivo.

  • Configurar la reflectometría en el dominio del tiempo
  • Conectar el sensor de tierra del DUT
  • Calibrar dispositivos de patrón digital

Usar códigos de operación para pruebas de escaneo

Usar el código de operación de escaneo para dividir un vector en uno o más ciclos de escaneo.

  • Explorar patrones de escaneo

Continúe su trayectoria de aprendizaje

Dispositivo NI DMM

 

Realizar medidas con multímetros digitales de NI

 

Aprenda a usar los multímetros digitales de NI (NI-DMM) de manera efectiva para reconocer e interpretar especificaciones clave, ayudándole a elegir el instrumento y las puntas de prueba adecuadas para sus necesidades de medidas.

Dispositivo de osciloscopio de NI

 

Realizar medidas usando osciloscopios

 

 

Al final de este curso, los usuarios podrán seleccionar un osciloscopio y puntas de prueba adecuadas para sus necesidades de medidas. Podrán configurar su dispositivo de osciloscopio y realizar medidas interactivas y programáticas de su DUT.

 

Acercamiento del hardware PXI de NI

 

Configuración, control y optimización de SMU y fuente de alimentación

 

El curso de configuración, control y optimización de SMU y fuente de alimentación permite a los ingenieros de pruebas y validación generar y medir voltaje y corriente para satisfacer sus necesidades de prueba.

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