Aprenda a usar de manera efectiva los osciloscopios de NI para seleccionar el instrumento y las puntas de prueba adecuados para sus necesidades de medidas. Configure su dispositivo de osciloscopio y realice medidas interactivas y programáticas de su DUT.
Capacitación virtual no disponible para este curso
Capacitación en aula no disponible para este curso
Capacitación privada no disponible para este curso
Crear y editar todos los elementos necesarios para distribuir un patrón digital en su DUT, incluyendo mapas de pines, hojas de nivel, hojas de tiempo y archivos de patrones
Probar los modos de operación del DUT con comandos SPI
Validar la comunicación del DUT mediante pruebas de lectura de registros
Validar la temporización del DUT a través de interfaz con equipos de prueba externos
Validar las conexiones de los pines del DUT mediante pruebas de continuidad y fugas
Utilizar códigos de operación para establecer el control de flujo dentro de los patrones
Utilizar formas de onda de fuente y captura para simplificar la estructura del patrón y almacenar datos
Sincronizar su instrumento de patrón digital con otros instrumentos en sus sistemas
Utilizar reportes de historial de RAM, diagramas de Shmoo y alcance digital para realizar actividades de depuración
Calibrar sus instrumentos y corregir cualquier desfase del cable
Bajo demanda: 5 horas
Ingenieros de pruebas que realizan pruebas de producción y caracterización de dispositivos semiconductores
Conocimiento práctico de LabVIEW o .NET C#
NI Digital Pattern Editor 2023 Q4 o posterior
NI-Digital Pattern Driver 2023 Q4 o posterior
LabVIEW 2024 Q1 o posterior
Instrumentos de patrón digital PXIe
La capacitación bajo demanda incluye materiales del curso digital entregados a través del centro de aprendizaje de NI, disponibles durante la duración del acceso de su suscripción
Incluido con suscripción de software y contratos empresariales, o 5 créditos de servicios educativos o 2 créditos de capacitación
Lección | Descripción general | Temas |
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Crear y activar su primer patrón | Configurar un mapa de pines, una hoja de nivel, una hoja de tiempo y un archivo de patrón, activando un patrón digital en el dispositivo bajo prueba (DUT). |
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Crear mapas de pines | Crear mapas de pines en el Digital Pattern Editor para definir sitios de conexión del DUT. |
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Crear hojas de especificaciones | Almacenar valores de la hoja de datos del DUT en las variables de la hoja de especificaciones. |
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Crear hojas de niveles de pines | Crear hojas de niveles de pines para definir los voltajes de suministro, terminación y niveles lógicos para el DUT. |
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Crear hojas de tiempo | Crear hojas de tiempo para definir las características de temporización de la interfaz con el DUT. |
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Crear archivos de patrones | Cree archivos de patrones para comunicarse y probar el DUT. |
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Programar patrones digitales | Controlar de manera programática los instrumentos de patrón digital usando la API de patrón digital de NI. |
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Probar modos de operación del DUT | Configurar el DUT con comandos de interfaz periférica serial (SPI) para probar sus modos de operación. |
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Realizar pruebas de lectura de registros | Realizar una prueba de lectura de registros para validar las capacidades de comunicación del DUT. |
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Validar la temporización del DUT | Conectar con equipo de pruebas externo para validar la temporización del DUT |
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Realizar pruebas de continuidad y fugas | Realizar pruebas de continuidad y fugas para validar conexiones de pines del DUT |
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Aumentar la robustez del patrón con control de flujo
| Aumentar la robustez de un patrón usando códigos de operación para establecer el control de flujo. |
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Usar formas de onda de fuente
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Usar formas de onda de fuente serial y paralela para simplificar una estructura de patrón con datos variables.
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Usar formas de onda de captura
| Usar formas de onda de captura para almacenar los datos recibidos para validación y procesamiento posterior. |
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Revisar resultados de prueba con reportes de historial de RAM |
Usar el resultado del reporte de historial de RAM para depurar patrón o dispositivo bajo prueba (DUT). |
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Visualizar señales con osciloscopio digital
| Usar un osciloscopio digital para ver los niveles de voltaje reales en los pines del instrumento de patrón digital (PXIe-657x).
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Usar gráficas Shmoo para visualizar relaciones de parámetros
| Usar gráficas Shmoo para iterar parámetros del patrón y ver resultados.
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Sincronizar con otros instrumentos | Implementar estrategias de sincronización como compartir disparos o usar NI-TClk para coordinar tareas con otros instrumentos.
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Cableado y calibración |
Compensar desfase del cable y compensaciones de voltaje y explorar los requisitos de calibración del dispositivo. |
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Usar códigos de operación para pruebas de escaneo | Usar el código de operación de escaneo para dividir un vector en uno o más ciclos de escaneo. |
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Aprenda a usar los multímetros digitales de NI (NI-DMM) de manera efectiva para reconocer e interpretar especificaciones clave, ayudándole a elegir el instrumento y las puntas de prueba adecuadas para sus necesidades de medidas.
Al final de este curso, los usuarios podrán seleccionar un osciloscopio y puntas de prueba adecuadas para sus necesidades de medidas. Podrán configurar su dispositivo de osciloscopio y realizar medidas interactivas y programáticas de su DUT.
El curso de configuración, control y optimización de SMU y fuente de alimentación permite a los ingenieros de pruebas y validación generar y medir voltaje y corriente para satisfacer sus necesidades de prueba.
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