NI PTS es un sistema de pruebas paramétricas de semiconductores flexible y de alto rendimiento basado en la plataforma NI PXI. A través de la densidad de canales, el paralelismo y la velocidad de las medidas líderes en la industria, el PTS ayuda a los usuarios a obtener una visión más rápida de los datos de calificación del proceso de semiconductores.
Reduzca el tiempo de prueba paramétrica
Modifique su sistema según sea necesario
PTS-48
Configuración máxima
48 canales de instrumentación SMU de precisión
La mejor opción para aprovechar al máximo el paralelismo por pin
PTS-32
Configuración media
32 canales de instrumentación SMU de precisión
Kit de actualización para 48 canales disponibles
PTS-16
Configuración básica
16 canales de instrumentación SMU de precisión
Kit de actualización para 32 canales disponibles
El mejor punto de entrada con la opción de actualizar
Hablemos de otras opciones para pruebas paramétricas
Si una configuración estándar de NI PTS no cubre sus necesidades, contáctenos. Podemos aprovechar el amplio portafolio de instrumentación en nuestra plataforma PXI para ayudarlo a diseñar un sistema que cubra exactamente sus necesidades.
El software de pruebas de fiabilidad a nivel de oblea (WLR) aprovecha el PTS de NI para pruebas de fiabilidad a nivel de oblea y simplifica la realización de pruebas de esfuerzo compatibles con JEDEC como TDDB, HCI, BTI, etc. sin necesidad de codificación. Este software también proporciona API de LabVIEW, C # y Python para casos de uso de desarrollo personalizados.
Nuestra documentación de PTS le dirá todo lo que necesita saber, desde la descripción general del sistema hasta la activación del sistema, el mantenimiento y las prácticas recomendadas.
Nuestro PTS funciona con la unidad de medida de fuente de precisión 4135 de NI.
La columna vertebral del PTS es el chasis PXIe-1095 de alto rendimiento.