Parametrisches Testen auf Wafer-Level​

Ingenieure für Wafer-Level-Tests sehen sich damit konfrontiert, ihre Prüfzeiten zu reduzieren, ohne dabei die Genauigkeit und Qualität von Messungen zu beeinträchtigen.

NI bietet flexible, parametrische Wafer-Fab-Testlösungen an, die an Ihre Anforderungen angepasst werden können.

Ein intelligenterer Ansatz für parametrische Tests auf Wafer-Level

Broschüre zur NI-Halbleiterprüfung

Erfahren Sie, wie Sie Ihre Prüfkosten durch einen plattformbasierten Ansatz für die Halbleiterprüfung senken können.

Im Fokus​

imec sorgt für eine höhere Flexibilität im Halbleiterprozessfluss und verkürzt mit der PXI-Plattform und LabVIEW die Wafer-Level-Testzeit.
Mit einem modularen Ansatz für parametrische Testsysteme können Sie den Footprint von WLR-Systemen erheblich reduzieren, ohne Abstriche bei der Messqualität zu machen.
Der kompakte Formfaktor und die Modularität der SMUs von NI machen diese Messgeräte für parallele IV-Testsysteme zu einem entscheidenden Faktor für parallele IV-Testsysteme.

Produkte und Lösungen​

ANWENDUNGSRESSOURCEN


PXI Resource Kit​

Erlernen Sie die Grundlagen der PXI-Plattform für die Charakterisierung von Halbleitern anhand von Hinweisen zur Systemarchitektur, anwendungsbezogenen Kundenlösungen und Leistungskennzahlen.