Tests in der Serienfertigung
Für Produktionstests benötigen Unternehmen eine intelligentere Alternative zu klassischen automatisierten Prüfsystemen (ATE), um die Anforderungen hinsichtlich Kosten und der Abdeckung von immer komplexeren RF- und Mixed-Signal-ICs zu erfüllen.
Ein intelligenterer Ansatz für automatisierte Produktionsprüfsysteme (ATE)
Chiphersteller müssen den integrierten Funktionsumfang erweitern, bei geschäftskritischen Anwendungen ein Höchstmaß an Zuverlässigkeit garantieren, äußerst wettbewerbsfähig bleiben und für eine kurze Produkteinführungszeit sorgen, um enge Zeitfenster auf dem Markt einzuhalten. Die Konsolidierung des Marktes für die automatisierte Halbleiterprüfung hat die Zahl der Anbieter reduziert, sodass die Produktauswahl begrenzt ist. Wir denken, es ist Zeit für eine Veränderung. Seit 40 Jahren unterstützt NI das Testen und Messen zukünftiger Geräte. Heute gehören wir zu den schnellstwachsenden Anbietern von Halbleiterproduktionstests, da wir glauben, dass die intelligenten Testlösungen der Zukunft – bedingt durch die Anforderungen von 5G, IoT und intelligenten Fahrzeugen – kunden- und nicht anbieterdefiniert sind.
Broschüre zur NI-Halbleiterprüfung
Erfahren Sie, wie Sie Ihre Prüfkosten durch einen plattformbasierten Ansatz für die Halbleiterprüfung senken können.
Im Fokus
ON Semiconductor senkt Prüfzeiten mithilfe des Semiconductor Test System (STS)
Das STS diente der Entwicklung eines kosteneffizienten, skalierbaren High-End-Produktionsprüfsystems für Mixed-Signal-ICs, was die Wafersortierung und Abschlussprüfung für eine neue Generation von Bildsensoren ermöglicht.
PXI ermöglicht einen intelligenteren Ansatz für IC-Tests
Mit dem Ansatz von NI für Halbleitertests können Testingenieure nicht nur betriebliche Anforderungen erfüllen, sondern auch die Kosten senken und Flexibilität sicherstellen.
Synergie CAD Instruments reduziert Testkosten mit einem vielseitigen Testsystem
Synergie CAD Instruments verwendete PXI und TestStand für kostengünstige Prüfungen und Reparaturen von Vorrichtungen im Einklang mit dem Fertigungsablauf bei minimalem Overhead und ununterbrochener Produktivität.
Produkte und Lösungen
NI Semiconductor Test System
Das Semiconductor Test System (STS) kombiniert die NI-PXI-Plattform mit modularen Messgeräten und Systemdesignsoftware zur Erstellung eines Prüfsystems für RF- und Mixed-Signal-ICs.