Beheben Sie Probleme im Fertigungsprozess, um Qualitätsziele zu erreichen. Analysieren Sie statistisch die Testdaten aus mehreren Operationen unter Verwendung bewährter PAT-Algorithmen (Part Average Testing), um positive Ausreißereinheiten zu identifizieren. Verbessern Sie Ihre Fähigkeiten mit OptimalPlus, indem Sie lernen, wie Sie Ausreißererkennungsalgorithmen mithilfe einer vordefinierten Grundgesamtheit auf Testdaten anwenden. Erfahren Sie, wie Sie diese Algorithmen während mehrerer Operationen mit einem einzigen Regel-„Rezept“ integrieren und kombinieren können. Erfahren Sie, wie Einheiten automatisch in andere Klassen umgeschaltet werden, wenn die Regel in der Produktion angewendet wird.
Letztes Veröffentlichungsdatum oder Versionsnummer des Kurses:
Vor Ort (mit Kursleiter): 3 bis 4 Tage (abhängig von den zu behandelnden Themen)
Kunden in der Halbleiterindustrie
Für alle, die für die Steigerung von Produktqualität und Zuverlässigkeit verantwortlich sind
Qualitätsingenieure, Test- und Produktingenieure, IT-Systemadministratoren und wichtige Benutzer für die erweiterte Schulung
Vorkenntnisse im Zusammenhang mit dem Lernpfad „Globale Operationen“
Eine Umgebung, in der der Lernende üben kann
Gewählte Anwendungsfälle, die im Kurs behandelt werden sollen
Bereitgestellte Informationen, wenn der Kunde eine Vertica-Umgebung verwendet
OptimalPlus SW
Erklären des Nutzens der Lösung für die Ausreißererkennung
Unterscheiden der Funktionsweisen der einzelnen Algorithmen
Entwerfen verschiedener Regeln für virtuelle Operationen
Analysieren der Regelergebnisse nach dem Anwenden eines Ausreißererkennungsalgorithmus
Bitte wenden Sie sich für weitere Informationen an das Anwendungs-/Support-Team oder fordern Sie die Schulungsübersicht an.