Die Software zum Testen der Zuverlässigkeit auf Wafer-Level (Wafer-Level Reliability, WLR) nutzt das PTS von NI für Zuverlässigkeitstests auf Wafer-Level und vereinfacht die Durchführung von JEDEC-konformen Stresstests wie TDDB, HCI, BTI und mehr – ganz ohne Programmieraufwand. Diese Software bietet außerdem LabVIEW-, C#- und Python-APIs für kundenspezifische Anwendungsfälle.