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Im Kurs „Messen der Zuverlässigkeit auf Wafer-Level (WLR)", erhalten Sie eine Einführung in das Testen der Zuverlässigkeit auf Wafer-Ebene (WLR) sowie in die Hardwareintegration, wie z. B. PXI Source Measure Units (SMUs) und Ihre zu testenden Prüflinge (DUTs) mit der WLR-Testsoftware. In diesem Kurs lernen Sie, wie Sie die WLR-Testsoftware zur Durchführung von 2- und 4-poligen Belastungstests und parametrischen Wobbeltests verwenden, um die Zuverlässigkeit von Halbleiterwafern zu messen. Sie machen sich mit der Kompensation von SMUs vertraut, bevor Sie WLR-Tests durchführen und SMU-Kanäle auf den Prüfling abbilden. Darüber hinaus lernen Sie, wie Sie zeitabhängige Gate-Oxid-Durchbrüche (TDDB) und Bias-Temperatur-Instabilität/Hot-Carrier-Injection-Tests (BTI/HCI) durchführen können. Außerdem erfahren Sie, wie Sie häufig auftretende Probleme bei der Systemkonfiguration, dem Systembetrieb und der Testdurchführung beheben können. Der Kurs „Messen der Zuverlässigkeit auf Wafer-Level“ richtet sich an Testingenieure, die eine schlüsselfertige Softwarelösung für die Prüfung der Zuverlässigkeit ihrer Halbleiterwafer benötigen.
Besondere Merkmale der Funktion: