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Mit dem PXIe-4190 können Sie Induktivität, Kapazität und Widerstand (LCR) elektronischer Geräte messen und testen. Es umfasst ein LCR-Messgerät mit Kapazitätsmessungen der fF-Klasse und eine Präzisions-SMU (Source Measure Unit) mit Strommessungen der fA-Klasse. Der PXIe-4190-Meter kann in automatisierten Prüfsystemen (CV/IV) für Halbleiteranwendungen verwendet werden, darunter IPD (Integrated Passive Device), MEMs (Mikroelektromechanische Systeme), Multi-Layer Keramikkondensatoren (MLCC) und parametrische Tests. Darüber hinaus wird der PXIe-4190 vom NI-DCPower-Gerätetreiber unterstützt, der APIs für LabVIEW, C, C# .NET, Python und andere Programmiersprachen enthält.
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