Gerätetests mit Digital-Pattern-Instruments (Kurs)

Der Kurs „Gerätetests mit Digital-Pattern-Instruments“ vermittelt Ihnen, wie Sie Halbleitergeräte mit PXI-Messgeräten für Digitalmuster testen.

Der Kurs „Gerätetests mit Digital-Pattern-Instruments“ hilft Ihnen bei der Verwendung von PXI-Messgeräten für Digitalmuster und des Digitalmuster-Editors zur Durchführung von Gerätetests mit Schwerpunkt auf der Kommunikation mit dem Prüfling, Tests der digitalen Schnittstelle sowie dem Durchgang und Lecktests. Dieser Kurs führt Sie durch den vollständigen Test-Workflow, von der Kalibrierung und Fehlerbehandlung bis hin zur Erweiterung von Tests in ein Test Executive sowie dem Import eines Musters in ein Test Executive. Sie lernen, wie Sie alle Elemente erstellen und bearbeiten, die zum Burst eines digitalen Musters an Ihren Prüfling erforderlich sind, einschließlich Pin-Maps, Pegel-Tabellenblätter, Timing-Tabellenblätter und Musterdateien. Darüber hinaus behandelt der Kurs die Synchronisierung von Digital Pattern Instruments mit anderen Geräten in Ihren Systemen. Nach Abschluss dieses Kurses verstehen Sie, wie Sie die Betriebsmodi des Prüflings mit SPI-Befehlen testen und wie Sie die Kommunikation, das Timing und die Pinverbindungen des Prüflings validieren. Der Kurs „Gerätetests mit Digital-Pattern-Instruments“ wird Testingenieuren empfohlen, welche Charakterisierungs- und Produktionstests von Halbleitergeräten durchführen.

Besondere Merkmale der Funktion:

• Format: Auf Anforderung
• Voraussetzungen: Keine

Artikelnummer(n): 910898-71